Система проверки надежности для квалификации лазерных диодов в импульсном или постоянном токе
Система испытаний на ресурс и квалификационных испытаний для оценки надежности лазерных диодов в режиме КС или импульсном режиме до 1 наносекунды. До 112 полностью независимых волоконно-оптических устройств подвергаются электрическим, термическим и оптическим испытаниям в соответствии с несколькими запрограммированными пользователем сценариями испытаний.
Эта система проверки надежности лазерных диодов была специально разработана для квалификации и тестирования устройств с волоконно-оптическими связями с максимальной гибкостью внутренних и внешних измерений. Оптическая мощность лазерного диода измеряется независимо от BFMs или некоторых внешних фотодиодов с переменным коэффициентом усиления для повышения точности. Он позволяет независимо и точно регулировать температуру каждой упаковки лазерного диода и каждого чипа лазерного диода.
его система проверки надежности лазерных диодов - это совместимая с короткими импульсами система оценки надежности, идеально подходящая для проверки срока службы и квалификационных испытаний.
Ключевые особенности :
От CW (непрерывная волна) до ширины импульса менее 1 нс
Испытания CW-LIV и Pulsed-LIV для предотвращения тепловых эффектов
100% независимое поведение каждого лазерного диода
Идеально подходит для Butterfly или других корпусов с волоконной связью (Mini-Butterfly, TOSA, TO-Can и т.д.)
Встроенная флэш-память в каждом лотке из 8 лазерных диодов
Программирующий супервизор с простым в использовании графическим интерфейсом
Полная защита лазера с помощью специального защитного окна
Области применения данной системы тестирования надежности лазерных диодов включают в себя любые квалификационные испытания, испытания на ресурс или испытания на сгорание:
Параллельно с производственным процессом для R&D и квалификационных групп
В конце производственного процесса лазерного диода
---