- Производство - Материалы - Метрология
- Испытания - Метрология
- Объектив микроскопа с увеличением
- Evident - Olympus Scientific Solutions
Объектив микроскопа с увеличением L seriesУФИК
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- с увеличением
- Другие характеристики
- ИК, УФ
- Фокусное расстояние
45 mm
(1,77 in)
Описание
Наши объективы LMPLN-IR и LCPLN-IR с большим рабочим расстоянием Plan Achromat специально разработаны для оптимального пропускания в ближней инфракрасной области (длины волн 700-1300 нм).
Объективы Plan Achromat с большим рабочим расстоянием в ближней ИК-области - LMPLN-IR/LCPLN-IR
- Объективы, предназначенные исключительно для микроскопии в ближней инфракрасной области, для исследования внутренних структур в кремниевых пластинах
- Объективы LCPLN-IR оснащены корректирующими манжетами, которые позволяют регулировать толщину кремниевых или стеклянных подложек
---
Каталоги
Vanta Overview
3 Страницы
MX63/MX63L
20 Страницы
Другие изделия Evident - Olympus Scientific Solutions
Objective Lenses
Расширенный поиск
- Тестер
- Воздухоплавательный тестер
- Прибор для контроля
- Анализатор
- Переносной тестер
- Прибор для контроля для поверхности
- Анализатор для аэронавтики
- Настольный анализатор
- Прибор для контроля для НРК
- Толщиномер
- Толщиномер для аэронавтики
- Детектор неполадок
- Детектор неполадок для аэронавтики
- Автоматический прибор для контроля
- Прибор для контроля с рентгеновским излучением
- Ультразвуковой прибор для контроля
- Толщиномер для покрытия
- Эндоскоп
- Анализатор для материалов
- Рентгенофлуоресцентный анализатор
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.