Совершенно объективная метрология царапина-раскопок и оптически поверхностная система проверки
Наша система Царапина-раскопок OptiLux была конструирована для промышленных изготовителей оптики которым нужно точно оценить и проверить несовершенства царапина-раскопок различных оптических компонентов. Она дает полный контроль процесса осмотра царапина-раскопок путем совмещение головы датчика высоко-разрешения с системой движения точности X-Y для того чтобы обеспечить полн-автоматизированные, оператор-независимые поверхностное измерение и режим анализа. Это сильно repeatable и traceable процесс поставляет не-disputable проверку качества царапина-раскопок, так же, как ограничивает количество компонентной регуляции которая уменьшает риск случайного повреждения к хрупким поверхностям. С точностью repeatable результатов, техники могут понять как близкий несовершенство к сортируя границе, позволяющ им уточнить их производственный процесс, например путем знать точно когда остановить и когда продолжать отполировать для того чтобы соотвествовать поверхностной спецификации для очень хрупких поверхностей. Эта немедленная автоматизация процесса осмотра раскопок царапины имеет огромное воздействие на уменьшении времен выполнения и производственных затрат.
---