Для контроля производственных процессов сложных и дорогостоящих компонентов компьютерная томография (КТ) становится технологией выбора для решения многих задач контроля и метрологии, например, для автомобильных отливок, лопаток аэрокосмических турбин или 3D-печатных деталей, которые по своей природе имеют скрытые особенности. Основной проблемой является увеличение времени цикла в сочетании с высокой глубиной контроля, что требует совершенствования методов борьбы с артефактами изображения.
Основным фактором возникновения таких артефактов в компьютерной томографии является рассеяние рентгеновского излучения. В то время как современные методы уменьшения рассеяния имитируют рассеяние на основе данных САПР или свойств материала образца, запатентованная технология Scatter|correct компании Waygate Technologies действительно измеряет часть рассеяния конкретного образца в томографе и минимизирует его из результата КТ для каждого отдельного вокселя. Новый запатентованный метод повышает пропускную способность и точность высокоэнергетической КТ для сканирования труднопроникающих образцов с относительно высоким атомным номером, таких как металлы, которые в действительности выполняются с помощью высококоллимированной классической двумерной КТ с веерным пучком. Это позволяет заказчикам получить качество КТ, недостижимое ранее при использовании промышленных конусно-лучевых КТ на основе плоских панелей. Сочетание высокой точности веерной КТ с в 100 раз более высокой пропускной способностью полностью автоматизированной конусно-лучевой КТ позволяет значительно повысить производительность контроля и перевести КТ из сферы НИОКР в сферу серийного контроля на производстве.
---