＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Длина волны: 185 nm - 672 nm
Бесперебойный контроль качества имеет решающее значение при любой работе с металлом, такой как анализ примесей в ломе, проверка поступающего материала, контроль и обеспечение качества в процессе литейного производства и выпуска готовой ...
Длина волны: 130 nm - 770 nm
... Новый двойной боковой интерфейс (DSOI) повышает чувствительность и устраняет проблемы загрязнения/совместимости с матрицей Один прибор вместо двух: Единственный на рынке плазменный прибор MultiView - истинно аксиальное и истинно радиальное ...
SPECTRO
Длина волны: 165 nm - 770 nm
... Элементный анализатор, предназначенный для сложных приложений - энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный (ED-XRF) спектрометр SPECTRO XEPOS переосмысливает рентгенофлуоресцентный анализ, обеспечивая новые исключительные уровни производительности Выдающаяся ...
SPECTRO
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось