Анализатор XRF X-Strata920
для материаловнастольныйдля аэронавтики

Анализатор XRF - X-Strata920 - Hitachi High-Tech Analytical Science - для материалов / настольный / для аэронавтики
Анализатор XRF - X-Strata920 - Hitachi High-Tech Analytical Science - для материалов / настольный / для аэронавтики
Анализатор XRF - X-Strata920 - Hitachi High-Tech Analytical Science - для материалов / настольный / для аэронавтики - изображение - 2
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
для материалов
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
для аэронавтики, XRF

Описание

X-Strata920 - это высокоточный настольный рентгенофлуоресцентный анализатор, оснащенный огромным набором опций для работы с различными типами образцов. Этот анализатор идеально подходит для измерения покрытий на различных подложках, а также для анализа электроники, разъемов, декоративных изделий и ювелирных изделий, где необходимо определить качество продукции. Сильной стороной X-Strata920 является его универсальность. Вы можете выбрать одну из множества конфигураций, включая пять базовых конфигураций для размещения образцов разного размера, шесть размеров коллиматора для оптимального анализа элементов разного размера, а также дополнительные автоматизированные функции, позволяющие ускорить процесс измерения при сохранении точности. Простой в использовании, с интуитивно понятным программным обеспечением, X-Strata920 может эксплуатироваться неспециалистами и легко впишется в производственный отдел или отдел контроля качества. Основные характеристики продукта Благодаря набору опций и универсальности, позволяющей работать с широким спектром образцов, X-Strata920 всегда обеспечивает точный анализ. Адаптируемая конструкция для надежного анализа широкого спектра продуктов Автоматическая фокусировка и дополнительный моторизованный столик повышают точность и скорость работы Интуитивно понятное программное обеспечение SmartLink упрощает проведение и экспорт измерений Конструкция с несколькими коллиматорами обеспечивает максимальную точность для каждого образца Возможность выбора пропорционального счетчика или кремниевого дрейфового детектора (SDD) в зависимости от условий применения Соответствует промышленным нормам, таким как IPC-4552A, ISO3497, ASTM B568 и DIN50987 Простая загрузка образца и быстрый анализ позволяют получить результаты за считанные секунды Мощная оптика для анализа однослойных и многослойных покрытий, включая легированные слои

---

ВИДЕО

Каталоги

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.