Анализатор XRF X-Strata920

для материаловнастольныйдля аэронавтики

Толщиномеры и РФА анализаторы материалов покрытия с микрофокусировкой для осуществления быстрого контроля качества и проверочного тестирования позволяют получить результаты в считанные секунды. Анализ толщины покрытия и материалов на основе метода РФА является широко распространенным и проверенным в отрасли аналитическим методом, предлагающим простой в использовании, быстрый и неразрушающий анализ, требующий незначительной подготовки образца, способный производить анализ широкого диапазона элементов периодической таблицы от 13Al до 92U. Система с пропорциональным счетчиком или SDD с высоким разрешением Диапазон элементов: Ti - U или Al – U (SDD) Конструкция камеры: щелевая Опции оси X-Y: фиксированное основание, глубокая лунка, с электроприводом Самый большой образец: 270 x 500 x 150 мм Максимальное количество коллиматоров: 6 Фильтры: 1 Самый маленький коллиматор: 0.01 x 0.25 мм (0.5 x10 мил) Программное обеспечение SmartLink