Анализатор XRF FT16 series

для материаловнастольныйдля аэронавтики

Настольный рентгенофлуоресцентный анализатор FT160 предназначен для измерения мельчайших элементов, встречающихся на современных печатных платах, полупроводниках и микроразъемах. Возможность точного и быстрого измерения мельчайших особенностей помогает повысить производительность и избежать дорогостоящей доработки или брака компонентов. Поликапиллярная оптика FT160 позволяет измерять покрытия в масштабе нм на элементах размером менее 50 мкм, а передовая технология детектора обеспечивает высокую точность при сохранении короткого времени измерения. Другие функции, такие как большой стол для образцов, широко открывающаяся дверца, камера высокой четкости для образцов и большое смотровое окно, позволяют легко загружать образцы разного размера и находить интересующую область на большой подложке. Простой в использовании, этот анализатор легко интегрируется в ваш процесс контроля качества/КК, предупреждая о проблемах до того, как они превратятся в кризис. Основные характеристики продукта Разработанный для анализа микроспотов и ультратонких покрытий, оптический прибор FT160 и технология детектора оптимизированы для работы с мельчайшими элементами. Большое смотровое окно позволяет наблюдать за анализом с безопасного расстояния Методы измерения соответствуют стандартам ISO 3497, ASTM B568 и DIN 50987 Тестовая отделка на соответствие стандартам IPC-4552B, IPC-4553A, IPC-4554 и IPC-4556 Автоматизированное расположение элементов для быстрой настройки образца Возможность выбора конфигурации анализатора, оптимизированной для вашего применения Измерение покрытий в масштабе нм на элементах размером менее 50 мкм Вдвое большая производительность анализа по сравнению с обычными приборами Возможность размещения больших образцов самых разных форм Надежная конструкция, проверенная для длительного использования в производстве