Динамическая характеризация МЭМС-устройств для измерения и визуализации механической реакции важна для разработки продукции, устранения неполадок и проверки FE-моделей. Анализаторы микросистем MSA от Polytec обеспечивают быстрые и точные оптические измерения внеплоскостного (OOP) и внутриплоскостного движения (IP). До сих пор эта возможность ограничивалась распакованными устройствами, к которым есть оптический доступ. Теперь же анализатор микросистем Polytec MSA-650 IRIS позволяет проводить измерения даже через неповрежденные кремниевые крышки на герметичных микроструктурах, таких как, например, интерстициальные датчики, МЭМС-микрофоны, датчики давления и др.
Основные моменты
Возможность измерения динамики МЭМС через различные слои Si-крышек
Измерение отклика вне плоскости в реальном времени до 25 МГц (без постобработки)
Субпикометровое разрешение внеплоскостного смещения
Простая проверка FE-модели МЭМС в конечном состоянии
Превосходное разделение отдельных слоев устройства
Стробоскопический видеомикроскоп для измерения перемещений в плоскости до 2,5 МГц
Автоматизированная система, хорошо интегрируемая в производство (совместимость с зондовыми станциями)
Измерительное решение MSA-650 IRIS "под ключ" включает в себя контроллер, функциональный генератор с дополнительными опорными каналами, мощный программный пакет для оптического сканирования и оптическую головку датчика со сложной ИК-оптической конструкцией. Благодаря специальной ИК-камере и низкокогерентному SLD-источнику это лучшая полнопольная система измерения вибрации для захвата целых слоев образца через кремниевые колпачки в рабочих условиях. Эта запатентованная технология интерферометра обеспечивает превосходное качество данных благодаря превосходному разделению отдельных слоев устройства.
---