Анализатор для материалов MSA-600

настольныйдля аэронавтикиоптический

Анализ и визуализация топографии поверхности и динамического движения являются ключевыми для тестирования и разработки микроструктур, таких как устройства MEMS (микроэлектромеханические системы). Они незаменимы для подтверждения расчетов FE, определения эффектов перекрестных помех и измерения деформации поверхности. Анализатор микросистем MSA-600 - это универсальная оптическая измерительная рабочая станция для определения топографии поверхности, а также перемещений в плоскости и вне плоскости. Версии MSA-600-M/V охватывают частотные диапазоны до 25 МГц, идеально подходящие для МЭМС, МЭМС микрофонов и других микросистем. Версии MSA-600-X/U охватывают диапазон высоких и очень высоких частот до 2,5 ГГц, идеально подходя для оценки высокочастотных МЭМС-резонаторов, микроакустических устройств типа SAW, BAW и других. Основные характеристики Оптическая измерительная рабочая станция "все-в-одном" для микроструктур Измерение отклика в реальном времени (не требуется постобработка) Версии MSA-600-M/V с частотой до 25 МГц Версии MSA-600-X/U с частотой до 2,5 ГГц Непревзойденное субпм разрешение смещения Быстрое измерение и визуализация формы прогиба Простое и интуитивно понятное управление Автоматизированная система для легкой интеграции в измерительные станции Возможность импорта/экспорта для проверки FE-модели Микросистемный анализатор MSA-600 обеспечивает повышенную гибкость и точность измерений, адаптируясь к потребностям современных и будущих микроструктур. Микросистемный анализатор предоставляет точные трехмерные данные о динамических и статических характеристиках, что повышает производительность устройств и снижает затраты на разработку и производство. Таким образом, он улучшает и сокращает циклы проектирования, упрощает поиск неисправностей и повышает выход продукции.