Оптические спектрометры

Длина волны: 175 nm - 770 nm

... Мощная альтернатива последовательным ИСП и ФАА: одновременный захват спектра в диапазоне длин волн 175-770 нм с возможностью анализа до 700 образцов в день Низкие эксплуатационные расходы: минимальная продувка оптики 0,5 л/мин, нет необходимости ...

Длина волны: 130 nm - 770 nm

... Новый двойной боковой интерфейс (DSOI) повышает чувствительность и устраняет проблемы загрязнения/совместимости с матрицей Один прибор вместо двух: Единственный на рынке плазменный прибор MultiView - истинно аксиальное и истинно радиальное ...

Длина волны: 165 nm - 770 nm

... Новая революционная технология Dual Side-On Interface (DSOI), позволяющая достичь вдвое большей чувствительности, чем у обычных приборов с радиально-плазменным обзором Технология TI обеспечивает высочайшую чувствительность для микроэлементов, ...

Длина волны: 165 nm - 770 nm

... Элементный анализатор, предназначенный для сложных приложений - энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный (ED-XRF) спектрометр SPECTRO XEPOS переосмысливает рентгенофлуоресцентный анализ, обеспечивая новые исключительные уровни производительности Выдающаяся ...

Длина волны: 165 nm - 770 nm

... Самый быстрый в своем классе: В два раза быстрее, чем при обычном тестировании, высокая точность при высокой скорости Превосходит по охвату и точности: Оптимизированные пакеты прикладных программ Непревзойденная простота в использовании: ...

... Признанный на рынке золотой стандарт элементного анализа драгоценных металлов Широкий спектр из > 30 элементов, подкрепленный обширными заводскими калибровками, обеспечивающими наилучшую точность для следов и мажоров Сокращение времени ...

... Быстрая и неразрушающая проверка на соответствие требованиям с гибкими размерами пятна, от 0,1 до 4 мм Сканирование и сопоставление линий элементов: Получение качественного элементного состава в течение нескольких минут - другим микрорентгеновским ...

... Легкий и портативный элементный анализатор для сплавов драгоценных металлов; размер пятна составляет всего 1 мм Быстро и на месте: Элементный анализ породы, осадка и почвы. Диапазон элементов, начиная с Na, пределы обнаружения соответствующих ...

Длина волны: 120 nm - 770 nm

... Высокая точность результатов менее чем за 20 секунд (пример: низколегированные стали) Потребность в регулярном техническом обслуживании (очистка искровой стойки) снижена в 8 раз В среднем, в 2 факторах улучшение пределов обнаружения для ...

Длина волны: 120 nm - 670 nm

... Уникальная стандартизация одного образца iCAL 2.0 помогает поддерживать одинаковую стандартизацию независимо от большинства температурных сдвигов и экономит в среднем 30 минут в день До 64% снижено потребление аргона в режиме ожидания ...