Новая революционная технология Dual Side-On Interface (DSOI), позволяющая достичь вдвое большей чувствительности, чем у обычных приборов с радиально-плазменным обзором
Технология TI обеспечивает высочайшую чувствительность для микроэлементов, а также отсутствие матричных помех и высокую точность для сложных экологических матриц
Новая система считывания GigE, позволяющая переносить спектры менее чем за 100 мс, что обеспечивает более высокую скорость анализа, сокращает время перехода от образца к образцу и увеличивает количество образцов в час
Чрезвычайно быстрый LDMOS-генератор, который делает ненужным внешнее охлаждение: анализ сложных матриц образцов в более низких разведениях для более низких пределов обнаружения - более быстрый прогрев (~10 минут) для более высокой производительности
Новая технология DSOI компании SPECTRO, представляющая собой совершенно новый подход к критическому вопросу проектирования плазменного обзора, использует вертикальный плазменный факел, наблюдаемый с помощью новой технологии прямого радиального обзора. Два оптических интерфейса захватывают излучаемый свет с обеих сторон плазмы, используя только одно дополнительное отражение, что обеспечивает дополнительную чувствительность и устраняет проблемы, характерные для новых моделей вертикальных факелов с двойным обзором. В результате DSOI обеспечивает вдвое большую чувствительность, чем обычные радиальные системы, но при этом позволяет избежать сложности, недостатков и стоимости моделей с вертикальным двойным обзором.
Модель двойного интерфейса автоматически объединяет осевой и радиальный виды плазмы - как поперек плазмы, так и из конца в конец - оптимизируя чувствительность, линейность и динамический диапазон, избегая матричных эффектов, таких как EIE. Результат: SPECTROGREEN TI обеспечивает самую высокую чувствительность для микроэлементов, а также свободу от матричных помех и хорошую точность для сложных матриц окружающей среды.
---